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时间相关测试系统

基于共聚焦显微光谱仪的荧光二阶关联测试系统

                              

本系统基于HORIBA公司紫外微区共聚焦光谱仪,及反射式物镜、反射式光纤耦合镜等元件,在共聚焦光谱仪预留的第三信号光出口上,定制加装在260-1700nm波长范围内无色差的Hanbury Brown and Twiss(HBT)测试光路,并将PMT电子倍增管、TCSPC电子学数据卡等时间相关光电信号处理电子元件做适当的封装、集成和调试,实现对量子点单光子源等微纳发光源的二阶关联及荧光寿命测试,具备百fs量级时间相关单光子计数(TCSPC)测量。

系统由宽光谱准直器、分光镜组,光子探测器,TCSPC模块和仪器化封装等部件构成。体积小巧紧凑,接口与HORIBA光谱仪预留接口进行配合。即插即用,性能稳定。

系统指标参数如下: 
> 光学系统工作波长:260~1700nm;
> PMT-R9880U-20探测器工作波长:230~920nm;
> TCSPC时间分辨率:813fs;
> 荧光寿命测量分辨率:750ps;
> PMT-R9880U-20探测器电子噪声:≤5mV。

时间:2019-01-02
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