联系我们
相关链接
HAMAMATSU


 

 

 

 
时间相关测试系统

闪烁晶体衰减时间测试系统(NP-Tau65)

  

本系统是诺为光科根据客户需求研制的一套用于闪烁晶体瞬态发光特性测试的实验装置。系统采的Na22放射源作为激发源,使用样品室、电子学系统和测量控制软件等部件,实现晶体衰减时间测试功能。采用延迟符合法精确测量闪烁体的时间相应特性、表征晶体的衰减时间,同时还可以实现样品符合分辨时间(CRTCoincidence Resolving Time)测量。 

 

时间:2018-08-09
产品中心
应用领域
技术支持
新闻中心
关于我们

联系电话:028-62038826

                 028-65239713

诺为光科 滨松 像增强器 高能皮秒激光器
蜀ICP备16032478号-1